一种半导体内部损伤探测用固定结构

一种半导体内部损伤探测用固定结构

专利授权实用新型广东省

申请进度

  1. 申请
  2. 授权
  3. 预计到期未提供

基本信息

一种半导体内部损伤探测用固定结构的公开专利资料
申请号CN202323431683.X申请日2023-12-15
授权公告号CN221696612U授权公告日2024-09-13
专利类型实用新型受理局—
当前法律状态待核验授权记录专利授权
申请(专利权)人深圳斯玛特传感技术有限公司发明人/设计人董瑞
地址广东省深圳市坪山区坪山街道六联社区坪山大道2007号创新广场A606-11单元发明人:董瑞专利号:ZL202323431683.X邮编518000
代理机构深圳市共赋知识产权代理事务所(普通合伙)代理人—
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