一种mosfet短路性能测试系统

一种mosfet短路性能测试系统

专利授权实用新型广东省

申请进度

  1. 申请
  2. 授权
  3. 预计到期未提供

基本信息

一种mosfet短路性能测试系统的公开专利资料
申请号CN202520931431.3申请日2025-05-13
授权公告号CN224609224U授权公告日2026-08-07
专利类型实用新型受理局—
当前法律状态待核验授权记录专利授权
申请(专利权)人深圳全芯微半导体有限公司发明人/设计人龙朝晖
地址广东省深圳市龙华区民治街道民治社区1970科技园5栋510邮编518000
代理机构深圳市共赋知识产权代理事务所(普通合伙)代理人—
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